搜索關鍵詞:熱電(dian)偶,熱電(dian)阻(zu),雙金(jin)屬溫度計(ji)(ji),壓(ya)力(li)表,壓(ya)力(li)變送器(qi),磁翻(fan)板液位(wei)計(ji)(ji)
闡述文章(zhang)的話(hua):SZU-01動態轉(zhuan)速(su)綜合測(ce)試(shi)(shi)儀是一臺智能化測(ce)試(shi)(shi)儀。其中央處理器(qi)為(wei)增(zeng)強型CMOS高級微(wei)機(ji)處理器(qi)-HD64180結構(gou)全部(bu)采用STD組件。測(ce)試(shi)(shi)儀有兩個輸(shu)入(ru)通道(dao),一個為(wei)
SZU-01動態轉速綜合測試儀是(shi)一臺智能化測(ce)試儀(yi)(yi)。其中央處理器為(wei)增強型(xing)CMOS高級微機(ji)處理器-HD64180結(jie)構全部采(cai)用STD組件(jian)。測(ce)試儀(yi)(yi)有兩個(ge)輸入通道,一個(ge)為(wei)電壓輸入,一個(ge)為(wei)脈沖輸入,且自動判(pan)別(bie)。測(ce)試儀(yi)(yi)基本上是(shi)作(zuo)為(wei)瞬間測(ce)速(su),采(cai)樣時(shi)間可在(zai)1~100ms間選擇(ze)(ze),共(gong)采(cai)樣10240個(ge)點(dian),采(cai)樣完(wan)畢后,可根據需要選擇(ze)(ze)顯(xian)示一幅總圖或(huo)某幅分(fen)圖(共(gong)20幅分(fen)圖),并能重復顯(xian)示。測(ce)試儀(yi)(yi)不但可用曲(qu)線表示過程(cheng),還可用一個(ge)數據串(chuan)表示過程(cheng),為(wei)了精確地讀取轉速(su)數值(zhi),還增加了移標(biao)功能,并顯(xian)示與移標(biao)對應的時(shi)間,轉速(su)等值(zhi)。測(ce)試儀(yi)(yi)還可用打印(yin)機(ji)將有關資料打印(yin)保(bao)存。
©2024 上自儀表有限公司(cvzp.cn)版權所有 技術支持: sitemap.xml 總訪問量:268921